檢測認證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：薄膜厚度測量儀
- 價格型號：XP―1
- 儀器分類：透射電鏡
- 應用領域：
- 所屬單位：南京航空航天大學
- 所在地點：
- 產 地：
- 產 商：美國AMBIOS公司
- 價 值：0
- 購置日期：0000-00-00
技術指標：掃描長度：0.05-30mm；樣品最大厚度：20mm；豎直分辨率/量程：1.5Å/10µm；15Å/100µm；62Å/400µm；
儀器用途：用于薄膜材料樣品的膜厚、表面輪廓、平整度、薄膜應力等的測量
收費標準：無
機組負責人：李子全 025-84895871
