檢測認證人脈交流通訊錄
技術指標:點分辨率:≤0.08nm,信息分辨率:≤0.08nm,高穩定性肖特基場發射電子槍S-FEG,束流:≥0.6nA @ 1nm,電子槍能量分辨率:≤ 0.7eV,束斑漂移:≤ 0.5nm/min,具有洛倫茨透鏡,可以觀察磁性樣品,會聚束電子衍射:最大會聚角:≥100mrad,最大衍射角:≥26°,標準低背景雙傾樣品臺最大傾斜角度:± 40°,樣品移動范圍 :X,Y: ± 1 mm;Z : ±0.375 mm,掃描透射(STEM):分辨率:0.136nm,探頭:高角環形暗場探頭(HADDF)
儀器用途:用于材料的超高分辨形貌觀察和微區的晶體結構、成份分析,系統由電子光學系統、高壓系統、真空系統等部分組成。
收費標準:300元/小時
機組負責人:劉金強 025-84303283 jqliu@njust.edu.cn


