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主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)

　　技術(shù)參數(shù)

　　1.粒度測(cè)定范圍:0.6nm-6000nm

　　2.濃度范圍:0.1ppm-40%(W/v)

　　3.分子量測(cè)定范圍:1,000-10,000,000道爾頓

　　4.高分辨Zeta電位分析:可分辨5mV的Zeta電位差別

　　5.溫度控制范圍:2-90度

　　主要特點(diǎn)

　　1.具有最低的納米粒度下限：可測(cè)量亞納米區(qū)及高分子大小

　　2.具有最寬的濃度應(yīng)用范圍：0.1ppm–40% (w/v)。最少樣品量?jī)H0.75ml。

　　3.獨(dú)有的高分辨Zeta電位技術(shù)：可輕易發(fā)現(xiàn)污染物，并可測(cè)定高鹽濃度及極低遷移率的樣品

　　4.可對(duì)分子量進(jìn)行測(cè)定，包括旋轉(zhuǎn)半徑和第二維里系數(shù)

　　5.唯一具有標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程(SOP)的納米粒度分析儀器。可隨時(shí)間及溫度變化進(jìn)行趨勢(shì)分析；與自動(dòng)滴定儀相連接后，可自動(dòng)測(cè)定粒度、Zeta電位隨pH、鹽濃度和電導(dǎo)率變化的，自動(dòng)測(cè)定分子量。

主要功能及特色

　　用于納米粒子的粒度分析、Zata電位測(cè)定

樣本檢測(cè)注意事項(xiàng)

　　1、粒徑測(cè)定時(shí)，樣品池內(nèi)待測(cè)樣品高度不能過(guò)高(參考工作室蓋上的示意圖)，否則影響樣品溫度的均勻性，加熱時(shí)也可能造成樣品液溢出而污染了工作室；

　　2、樣品池內(nèi)的樣品不能有氣泡，否則影響測(cè)定的結(jié)果；

　　3.樣品池放入工作室前要用擦鏡紙擦干樣品池的外表面；

設(shè)備使用相關(guān)說(shuō)明

　　粒度分析、Zata電位測(cè)定