檢測認證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：掃描探針顯微鏡
- 價格型號：Nanoscope*
- 儀器分類：分析儀器/顯微鏡及圖象分析儀器/掃描探針顯微鏡
- 應用領域：電腦 軟件;電子元器件
- 所屬單位：復旦大學信息科學與工程學院
- 所在地點：上海市楊浦區邯鄲路220號
- 產 地：美國
- 產 商：美國Veeco Instruments 公司
- 價 值：0
- 購置日期：0000-00-00
主要技術指標：AFM噪聲水平0.3 ,可對云母、石墨原子像成像控制器反饋相應時間：2s,采樣率50MHZ掃描范圍：0.4μm×0.4μm×0.4μm或10μm×10μm×2.5μm TUNAZ:電流測量分辨率~2PA;加放大器~50fA
功能/應用范圍：系統包含原子力顯微鏡、電力顯微鏡、表面電勢、電流等微區測量功能。用于半導體材料的表面微結構及微區電學特性測試。
技術特色：-
主要測試和研究領域：電子/信息技術
收費標準：其它收費方式
儀器負責人：黃大鳴,陳潔
電話：021-51355420
電子郵件：dmhuang@fudan.edu.cn
