技術指標
最高放大倍數:TEM 100萬倍; STEM 230萬倍點分辨率:0.20 nm線分辨率:0.102nm STEM HAADF分辨率:0.17 nm最高加速電壓: 300KV。
儀器用途
生物、醫學、材料學、半導體材料、金屬、陶瓷等物質的超微結構觀察和分析。
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