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檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱(chēng)：透射電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 價(jià)格型號(hào)：TEOL2010(JEM)
- 儀器分類(lèi)：分析儀器/電子光學(xué)儀器
- 應(yīng)用領(lǐng)域：化工原料;能源;禮品 工藝品
- 所屬單位：復(fù)旦大學(xué)化學(xué)系
- 所在地點(diǎn)：上海市楊浦區(qū)國(guó)定路428號(hào)同舟大廈3樓
- 產(chǎn) 地：日本
- 產(chǎn) 商：日本電子光學(xué)公司
- 價(jià) 值：0
- 購(gòu)置日期：1899-11-30
主要技術(shù)指標(biāo)：點(diǎn)分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。
功能/應(yīng)用范圍：納米材料，高分子材料，半導(dǎo)體材料，介觀材料，微孔材料等的形貌觀察、結(jié)構(gòu)分析和微區(qū)在線元素分析。
技術(shù)特色：除了正常的高分辨透射電鏡的功能之外，能在加熱條件下觀察樣品的結(jié)構(gòu)和形貌變化。
主要測(cè)試和研究領(lǐng)域：石油/化工材料/珠寶首飾
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