光學分辨率： ≤0.05nm（@200nm） 穩定性： ≤2% 重復性： ≤1.5% 檢出限： ≤0.003 波長范圍： 170-900nm Prodigy XP ICP光譜儀，成功地采用了比早期檢測器面積大4倍的大陣列、程序化、固態檢測器陣列。一次曝光完成全譜測量，快速地對全譜信號進行非破壞性實時讀取。 Prodigy XP傳承了Leeman Labs公司25年設計制造中階梯光柵光譜儀的歷史和經驗，從而保證了其優異的品質和先進性。性能卓越的Prodigy XP是您的最佳選擇。 主要特點 1.大面積、程序化CID固態檢測器（C-PAD） 2.大色散、高分辨 3.全譜一次曝光，同步背景、內標校正 4.無溢出、非破壞性數據采集讀取 5.全自動光源反射鏡控制，垂直、水平及雙向觀測