檢測認證人脈交流通訊錄
- 儀器名稱：橢圓偏振光譜儀
- 價格型號：ELLIP-B
- 儀器分類：分析儀器/光譜儀器
- 應用領域：其他
- 所屬單位：中南大學
- 所在地點：湖南長沙岳麓區麓山南路932號
- 產 地：中國
- 產 商：上海復旦安正光子網絡公司
- 價 值：0
- 購置日期：2004-05-01
主要技術指標：1.入射波長：650nm；2.波長分辨率：0.6nm；3.入射角范圍：30°～90°；4.膜厚準確度：±0.1nm。
主要應用領域：材料，機械工程
檢測項目：測量透明薄膜的厚度和折射率等。樣品要求：樣品為薄片狀，總厚度不超過2mm，尺寸為(15～50)mm×（15～50)mm其中，薄膜的厚度應小于1μm，其襯底必須為鏡面效果硬支撐物。
儀器聯系人：李幼真
聯系人電話：0731-88836313
